三、出現(xiàn)以下畫面時(shí)點(diǎn)擊“I   Agree”.

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:12 ]

四、出現(xiàn)以下畫面,大體意思是問找到的驅(qū)動(dòng)器正確么？點(diǎn)擊“YES”。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:12 ]

五、出現(xiàn)以下畫面，我們有兩種選擇：
1、“Quick  Test”:快速測試。
快速測試時(shí)間最短，但只能進(jìn)行簡單的測試。
2、“Advanced Test”:高級測試。
高級測試耗時(shí)較長，但測試內(nèi)容詳盡，硬盤有無問題均可測試出來，推薦使用。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:13 ]

六、我們先進(jìn)行快速測試，看看結(jié)果怎樣。點(diǎn)擊“Quick  Test”后，出現(xiàn)如下畫面：
點(diǎn)擊“STRAT”，開始了。
需要注意的是，測試開始后，鼠標(biāo)均不能使用。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:14 ]

七、不到2分鐘，我的600E 6。4G 硬盤就測試完畢，出現(xiàn)以下畫面：Operation
completed successfally ,DISPOSITION CODE=0*00，意思是 運(yùn)算全部成功，點(diǎn)擊“OK”，又退回前一畫面。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:14 ]

八、這次，我們該進(jìn)行高級測試了，步驟同上。
經(jīng)過長時(shí)間的測試后，因?yàn)槲业挠脖P是好的，所以仍然提示：Operation
completed successfally，DISPOSITION CODE=0*00。
如果硬盤有任何問題，均不會(huì)出現(xiàn)上述提示，會(huì)有其它錯(cuò)誤代碼提示并且畫面背景為紅色（后附錯(cuò)誤代碼表）這樣，我們只需花不很長的時(shí)間就可以知道硬盤是好的還是壞的了。
需要注意的是，測試時(shí)間與硬盤容量大小有關(guān)，硬盤越大，測試時(shí)間越長，我的6。4G硬盤高級測試花了12分鐘。

[ Last edited by c@ini@o on 2003-12-28 at 14:52 ]

[ 本帖最后由 c@ini@o 于 2005-11-12 14:33 編輯 ]

十、下面，我們看一下IBM  DFT還有什么其它功能。
我們看標(biāo)題欄，有：DRIVE、FITNESS TEST UTILITES、HELP。
1、DRIVE（驅(qū)動(dòng)器）下有：SLETCT DRIVE ALT-S（選擇驅(qū)動(dòng)器），用來選擇你想測試的驅(qū)動(dòng)器。
RESCAN BUS  ALT-R：我查英漢詞典查不到什么意思。
EXIT  ALT-X：退出，沒什么好說的。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:18 ]

2、FITNESS TEST （適當(dāng)?shù)臏y試）下有：QUICK TEST（快速測試）我們已經(jīng)用過了，不多說了。
ADVANCED TEST ：高級測試  這個(gè)我也介紹過了。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:21 ]

3、UTILITES（功能）下有：DRIVE INFO（驅(qū)動(dòng)器信息）里面有硬盤的詳細(xì)信息，一會(huì)我會(huì)詳細(xì)介紹。
ERASE BOOT SECTOR（抹去分區(qū)表）很顯然，這項(xiàng)是在分區(qū)表損壞時(shí)用來重建分區(qū)表的。我的硬盤是日立的，無法使用這一項(xiàng)。
ERASE DISK（格式化硬盤）應(yīng)該是低級格式化。只能用在IBM的硬盤上。
CORRUPTED SECTOR REPAIR（修復(fù)壞的部分）應(yīng)該是可以修復(fù)一些小問題，同樣只適用IBM硬盤。
ATA FUNCTIONE下有S。M。A。R。T。 OPERATIONS這項(xiàng)我記不清什么意思了。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:22 ]

現(xiàn)在詳細(xì)介紹一下DRIVE INFO（驅(qū)動(dòng)器信息），以我的TP600E，日立硬盤介紹：
點(diǎn)擊DRIVE INFO（驅(qū)動(dòng)器信息）后，顯示如下畫面：
MODEL（型號）：HITACHI_DK239A-65B
CAPACITY(容量):6.45GB
CACHE SIZE(緩沖大小):512KB
ATA COMPLIANCE(看不懂):ATA-4(應(yīng)該是ATA接口速率)
ULTRA   DMA
   HIGHEST MODE（高度方式，我也不明白什么意思）：2
   ACTIVE  MODE（活動(dòng)方式 ，我也不明白什么意思）：2
SETTINGS   設(shè)置
   WRITE CACHE（書寫緩沖）：ENABLED（開啟）
   READ LOOK-AHEAD（不懂）：ENABLED（開啟）
   S。M。A。R。T。 OPERATIONS（不懂）：ENABLED（開啟）
   S。M。A。R。T． STATUS（不懂）：GOOD
   SECURITY FEATURE（安全特性）：SUPPORTED（支持）
   PASSWORD（密碼）：NOT SET （沒設(shè)）
   SECUTITY MODE（不懂）：FROZEN （不懂）

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:23 ]

現(xiàn)在基本上把IBM DFT如何使用介紹完了，因?yàn)槲业挠⑽牟缓茫�有些功能只能用在IBM硬盤上，我的硬盤又是日立的，所以我也沒用過。如有錯(cuò)誤或補(bǔ)充，歡迎跟貼說明！
希望拙文能給需要的朋友一些幫助，愿大家都能買到一塊好硬盤！

[ Last edited by c@ini@o on 2003-12-28 at 15:10 ]
補(bǔ)充一下檢測結(jié)束后錯(cuò)誤代碼表：

    0X00 -  Not error
0X10-  Aborted
0X20 -  Device Not Present
0X22 -  Password Protected
0X30-  Out of memory
0X31-  Wrong Parameter
0X32-   Illegal Parameter
0X33-   Function not supported
0X40-   System Error
0X41-   Bad Cable
0X42 -  Temerature Limit exceeded
0X43-   Pending SCSi Request
0X44-   System Vibration
0X45-   Low system Performance  
0X70-   Defective Device
0X71-   Device Nor Ready
0X72-   Device SMART Error
0X73-   Device Damaged By Shock
0X74-   SMART self test Error SMART
0X75    Defective device